MTZ-35是專門用于材料特性表征的阻抗分析儀，頻率范圍覆蓋10μHz-35 MHz。

       MTZ-35可以與HTF-1100高溫爐配合使用，以研究寬溫度范圍內（室溫到1100℃）的材料性質。

       建議兩個主要的樣品支架：HTSH-1100，用于高溫；CESH，用于環(huán)境溫度~ 150℃（高）。

應用：

• 環(huán)氧樹脂                                     
• 液晶
• 鐵電體
• 生物細胞
• 極性液體
• 陶瓷
• 太陽能/光伏電池
• 傳感器
• 橡膠
• 聚合物
• 納米材料

利用阻抗圖譜計算介電常數(shù)：

ω=2 π f                                 f   為測得阻抗頻率值

電容C=1/( ω*z’’)               z’’ 為測得阻抗虛部值

電容C=S*ε / 4π Kd                K 為靜電常數(shù)  9E+09

介電常數(shù)ε=4π KdC/S            d 為薄膜厚度

                                             S 為薄膜面積

介電損耗D=1/tan θ              Z’ 為測得阻抗實部值